...m）的可靠性研究-中国论文辅导网 论证了从应力诱导漏电流 （stress-induced leakage current ,SILC）到软击穿（soft breakdown，SBD）和硬击穿 （hard breakdown，HBD）就是一个缺陷密度连续增加并且缺陷的势垒高度不断下降...
基于176个网页-相关网页
因受应力所导致的漏电流(Stress-Induced Leakage Current, SILC)，另一种是暂时性崩溃(Soft Breakdown, SBD)，如图四所示。在超薄氧化层中，这两种现象必须列入氧化层可靠度的考虑中。
基于4个网页-相关网页
...后的HfSiON 介电层，由于微结晶现象导致初期漏电流较高，当电子 捕捉行为发生后，便随时间产生少數的暂时性崩溃(Soft Breakdown， SBD )或渐进式崩溃(Progressive Breakdown，PBD)，最后产生多數的 直接永久性崩溃现...
基于4个网页-相关网页
Secondly, soft breakdown characteristics of BST thin film are investigated.
其次,研究了BST薄膜的软击穿特性。
参考来源 - BST薄膜漏电流与软击穿特性研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
应用推荐