中国最大的综合性文献数据库 -维普资讯 关键词: SoC测试 芯核包装电路 不确定位 扫描切片[gap=882]Key words: SoC test; core wrapper; don＇t care bits; scan slice
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soc test design soc测试设计
SoC test scheduling SoC测试调度
SOC test architecture SOC测试结构
SAPPHIRE SOC Test System SAPPHIRE集成电路测试系统
The second problem of test reuse is the design of SOC test architecture.
测试复用的第二个问题就是SOC测试结构设计问题。
First of all, several methods about testing technology and design for testability and SoC test techniques are summarized.
首先对测试技术和可测试性设计的一些方法做出了综述。
This paper introduces the special software and flow converted from VCD test vector to STIL test vector, which is based of SAPPHIRE SOC test System.
本文基于SAPPHIRE集成电路测试系统，介绍了自行开发的从VCD测试向量到STIL测试向量的转换软件及流程。
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