中国最大的综合性文献数据库 -维普资讯 关键词: SoC测试 芯核包装电路 不确定位 扫描切片[gap=882]Key words: SoC test; core wrapper; don＇t care bits; scan slice
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SoC测试调度 SoC test scheduling
SOC测试结构 SOC test architecture
SoC测试系统 SoC tester
SoC芯片测试 SoC chip testing
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作者：雷绍充 出版社：西安交通大学出版社 ISBN：9787560539751 出版日期：2012 年1月 开本：16开 页码：257 版次：1-1
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