• 突发击穿 - 引用次数：1

  参考来源 - Snapback应力对90nm nMOSFET栅氧化层完整性的影响 Effect of Snapback Stress on Gate Oxide Integrity of nMOSFET in 90nm Technology

·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress