...1)简单介绍了航天集成电路面临的各种辐射环境以及由辐射引起的电离辐射效应。介绍了几种常见的单粒子效应(Single Event Effects,SEE)和电荷产生与收集的机理。最后主要从电路级介绍了目前常用的存储单元加固技术。
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在空间环境甚至在地面环境中,受高能粒子等多种因素的的影响,深亚微米COMS SRAM很容易发生单粒子事件(single event effects,SEE),使得COMS SRAM中的存储数据发生翻转甚至直接将器件烧毁。
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SRAM is very sensitive to single event effects,and it is the weakest part in space microprocessors.
SRAM对单粒子效应十分敏感,是宇航级微处理器中最脆弱的部件。
参考来源 - 基于商用工艺的抗辐射SRAM设计与实现·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
A single event effects test system for 80c86 is developed in Northwest Institute of Nuclear Technology. Its principle, experiment facilities and results are introduced.
介绍西北核技术研究所研制的80c86单粒子效应测试系统的工作原理、实验装置及结果。
Atmospheric neutron is the main radioactive particle in the near space that induced single event effects (SEE) and seriously imperils the safety of the aircraft at this altitude.
大气中子是这一区域诱发元器件发生单粒子效应最主要的原因，严重威胁着临近空间飞行器安全、可靠地工作。
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