半导体接触
基于1个网页-相关网页
semiconductor contacts
以上为机器翻译结果，长、整句建议使用 人工翻译 。
This paper presents a forward-bias capacitance measurement system based on HP 4274AL-C-R meter for extracting the parameters of interface states of metal-semiconductor contacts.
本文描述使用以阻抗测量仪为中心的正偏电容测量系统提取金属-半导体接触界面态参数的方法。
youdao
应用推荐
模块上移
模块下移
不移动