scanning line width
扫描线宽度
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The line width of nanostructures is influenced by many factors such as tip curvature radius, detained time in the base surface, scanning speed, humidity, surface roughness etc.
尖端曲率半径、针尖在基底表面滞留时间、针尖扫描速度、空气湿度、表面粗糙度等均会影响纳米结构的线宽。
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