...借由改变铝薄膜厚度及不同升温速度,并经由拉曼光谱分析仪(Raman Spectrometer)、薄膜X光绕射仪(X-Ray Thin Film Diffractometer)、霍尔量测(Hall Measurement)等分析低温铝诱发多晶矽薄膜之结构、电特性及光学特性。
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X-Ray Thin Film Diffractometer 绕射仪
Multipurpose X-Ray Thin-Film Diffractometer 多功能X光薄膜绕射仪
ray thin film diffractometer
射线薄膜衍射仪
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