multilayered plating thickness X-ray spectrofluorometer 多层镀厚度X射线荧光谱仪
ray spectrofluorometer
射线荧光谱仪
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The crystal structure, morphology and luminescent properties of samples were analyzed by the X-ray diffraction, field emission scanning electron microscope and spectrofluorometer, respectively.
通过X射线粉末衍射仪、场发射扫描电子显微镜和荧光分光光度计分别表征样品的晶体结构、颗粒形貌和发光性能。
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