本文主要研究如何抑制电路的动态功耗,鉴于随机扫描结构(Random Access Scan,RAS)在降低动态测试功耗中的突出表现,本文着重研究了基于RAS结构的测试方法。
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This paper proposes a random access scan and test approach, which deals with the compatible issue of scan unit to produce new test group.
提出一种随机存取扫描测试方法，对扫描单元进行相容处理，以形成新的测试集合。
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