高分辨率形貌分析由AFM测试得到， 而局部化学表征则由增强光热诱导共振（PTIR）技术的红外光谱完成。PTIR技术也支持接触共振频率检测同时对可各种材料的成像分析。
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...R系列）是美国Anasys仪器公司于2010年研发的基于原子力显微镜（AFM）的材料表征工具。其采用独有专利的光热诱导共振技术（PTIR，也称AFM-IR），使红外光谱的空间分辨率突破了光学衍射极限，提高至10纳米级别。
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