利用光激发荧光谱技术(PSLS)测量热生成A1203层的内应力,利用X射线衍射(XRD)仪,光学显微镜(OM),扫描电子显微镜(SEM/EDX)等对氧化后的样品氧化铝表面及断面...
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中通常含痕量的Cr3+,它在光激发下,激发d“电子衰减发出荧光,产生特定的“指纹”谱线,这种谱线称为光激发荧光谱(PSLs).不同的A1203相结构,Cr“+离子占据的空间位置不同,其相应的荧光特征谱线不同.
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