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  可引入伪内建自测试

可引入伪内建自测试（PBIST）哺。方法来减少测试 数据和缩短测试时间。

基于12个网页-相关网页

PBIST

  • abstract: Programmable Built-In Self-Test (PBIST) is a memory DFT feature that incorporates all the required test systems into the chip itself. The test systems implemented on-chip are as follows:

以上来源于: WordNet

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- 来自原声例句
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