Secondly, logic BIST is extensively studied especially test pattern generation techniques.
其次，对逻辑BIST尤其是测试模式生成技术进行了广泛的研究。
参考来源 - 基于多扫描链的集成电路内建自测试方法研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
Write detailed procedural shaders using texture, displacement, pattern generation, and custom reflection models.
写详细的程序使用纹理着色器，位移，模式生成和自定义反射模型。
In this dissertation, some beneficial researches on test pattern generation for asynchronous circuits are taken.
本文还针对异步时序电路测试生成问题进行了有益的研究。
The paper proposes controlling input values tracing algorithm and test derivation algorithm based on test pattern generation using satisfiability.
以组合电路的满足性测试生成算法为基础，提出了控制输入跟踪算法和测试衍生算法。
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