此外，参数良率(parametric yield)的相应提升，织发补发也代表可以显著节省生产成本。 台积公司前五大专业集成电路设计客户中已经有二家率先采用此项服务及相关制程...
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How to determine the acceptability region in design space is a difficulty in the optimization of parametric yield.
本文提出了一种新的IC参数成品率的全局优化算法一映射距离最小化算法。
参考来源 - 集成电路参数成品率的预测与优化技术研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
The integrated circuits parametric yield is important problem of the IC designing and manufacture engineering.
集成电路参数成品率的研究是集成电路可制造性工程和设计研究的重要内容之一。
The maximum problem of parametric yield in VLSI is always an important issue in design for manufacturing (DFM).
超大规模集成电路(VLSI)中的参数成品率最优化问题一直是集成电路可制造性设计的重点研究问题。
These platforms work together to characterize, model and analyze the impact of variability on parametric yield and performance.
这些平台共同工作以表征、建模和分析变化的参数成品率和性能的影响。
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