• 参数成品率 - 引用次数：2

  Thirdly, considering the impact of process variations on VLSI parameter yield, a chebyshev affine arithmetic based yield estimation approach is proposed.

  第三,考虑工艺参数扰动对大规模集成电路参数成品率估计的影响,提出了基于切比雪夫仿射技术的参数成品率估计方法。

  参考来源 - VLSI受工艺参数扰动影响的若干问题研究
• 参数成品率 - 引用次数：2

  This dissertation aims at discussing income optimal model of parameter yield. Based on Design centering and Maximum Income Approach, the author put forward a new global profit optimal model that grounds on 1C products' optimal classifying.

  本论文主要研究了集成电路参数成品率的效益协调优化模型，在中心值设计、效益极大化模型的基础上提出了一种基于产品最优分档的整体效益协调优化模型。

  参考来源 - 基于IC产品最优分档的效益协调优化模型及求解研究

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