Qcept将利用该资金扩大公司营运，解决非光学可视性缺陷（non-visual defects，NVDs）此项影响半导体产业良率的关键挑战之一，以满足市场上对晶圆检测解决方案日益增加的需求。
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...过其自行开发的ChemetriQ缺陷侦测技术与缺陷检测系统，将可望缓解对半导体良率带来关键挑战的非光学可视性(non-visual defects，NVD)检测问题。NVD一般包含了有机、无机、金属污染、由制造过程.
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Qcept将利用该资金扩大公司营运，解决影响半导体产业良率关键挑战之一的非光学可视性缺陷(non-visual defects，NVDs)问题，以满足市场上对晶圆检测解决方案日益增加的需求。
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《半导体科技》>ADI模数转换器新品提高医疗设备和精密仪器性能 性缺陷的检测 如何对湿法清洗工艺和表面处理工艺进行优化是半导体业界需要面对的挑战之一，其部分原因是缺乏对非可视性缺陷（nonvisual defect, NVD）的检测手段。本文介绍一种新型的非光学检测技术，并以此来对通孔制作后现有的湿法清洗工艺进行优化。这种扫
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