通过X-射线相互映射和高分辨率的透射电子显微镜(HRTEM)塑料放宽变质的高电子迁移率晶体管(MHEMT)结构进行了研究。透视数据表明,在(Ga)的的AlAs中号缓冲液的线性梯度的缓冲液和逆步骤完全在缓冲区有源区界面的应变补偿。
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