这里我们重点针对四种标准化方法模型:参照点标准化(CSN)、总强度标准化(TIN)、局部加权线性回归标准化(LWLRN)和局部均值化标准化(LMN),详细分析了这四种标准化方法模型各自具有的特性;
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, TIN ) 和局部加权线性回归标准化法(locally weighted linear regression normalization , LWLRN) 对高低密度 芯片数据进行分析处理。
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