...图3）。石墨稀显微镜是测量该新材料的必要手段。关键问题之一是单个样品和多层样品中石墨稀的层数。TEM和低能电子显微镜（LEEM）是确定层数的重要检测设备，多层切片模拟式确定TEM检测能力和成像条件的有效方式。LEEM可以检测层数及样品的形貌。
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近几年来,随着实验手段的提高,如热原子散射技术(TEAS)、低能电子显微术(LEEM),特别是扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)等用于观察薄膜的生长形貌,使得直接观察超薄膜平衡和非平衡生长过程成为可能,人们...
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...进行了研究，即自旋极化的低能量电子的显微镜（SPLEEM）和X射线磁性圆二色光电子的显微镜（XMCDPEEM），低能量电子显微镜（LEEM）和低能电子衍射（LEED）的结合。一个新的SRT机制，发现和阐明铁磁性和结构之间的相互关系。
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