而扫描、AC扫描、逻辑内建自测试(LBIST)和记忆体BIST这类结构测试方法，已经为理解设计规格、识别生产和设计中的缺陷、描绘和监控产品生产过程以及加速产品上市提供了一...
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应用于逻辑核的BIST关键技术研究-中国重要会议论文全文数据库 用于提高芯片可测试性的可测性设计(dcsign for testability,DFT)方法被提出,其中逻辑内建自测试(logic built in self test, LBIST)方法已经被证明为大规模集成电路(VLSI)和SOC测试的一项有效的可测试性设计方法。本文首先对Log
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BIST又分为了逻辑内建自测试（LogicBIST，LBIST）和存储器内建自测试 （MemoryBIST，MBIST），MBIST又分为RAM BIST以及ROM...
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