扫描测试(SCAN)主要有内部扫描(Internal Scan)和边界扫描(Boundary Scan),内部扫描是一种成熟的时序电路DFT技术,而边界扫描是具有JTAG标准的支持在电路板一级对芯片或板上的逻...
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Internal scan is advanced for the difficulty of fixing the state of sequential circuit, can be divided into full-scan and partial-scan.
内部扫描技术是为了克服时序电路由于状态很难确定所导致的测试复杂度而提出的一种技术，可以分为全扫描和部分扫描。
参考来源 - 嵌入式微处理器可测性设计研究与实现·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
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