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integrated circuit des
集成电路des
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The result shows that EM information leakage exists in CMOS integrated circuit during work, XOR operation in each round of DES is an attack point.
分析了CMOS逻辑门电路在运行时的电流特征，阐明了集成电路中数据与电磁辐射的相关性，建立了寄存器级电磁信息泄漏汉明距离模型。
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