产生所述找到信号（IDHIT）。
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...）由包信号（RQ）和表示老化测试的指令的测试信号（TP）共用，逻辑门（23）用于直接从内部模式信号（TEST）产生找到信号（IDHIT），以使时序发生器（16）在老化测试中起动控制序列，而不管测试信号（TP）和存储的器件识别码（ID1）是否一致。
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