为 此，人们提出了瞬态电流测试（IDDT Testing）方法[2]，它能发现一些其他测试方法所不能发 现的故障，从而可以进一步提高测试的故障覆盖率，满足人们对高性能集成电路的需要[3...
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正是由于这些方面的局限性,人们提出了瞬态电流测试方法(IDDT testing),以便发 现一些其他测试方法所不能发现的故障,进而从总体上进一步提高测试的故障覆
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关 键 词 故障模型; 缺陷测试; 动态电流测试; 故障模拟 [gap=1144]Key words defect model; fault detection; IDDT testing; defect simulation
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正是由于这些方面的局限性,人们提出了瞬态电流测试方法(IDDT testing),以便发 现一些其他测试方法所不能发现的故障,进而从总体上进一步提高测试的故障覆
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Iddt testing is another test approach that exposes faults by disposing the transient current flowing through the circuit under test. It can explore some faults that cannot be detected by voltage based testing and Iddq testing.
瞬态电流(IDDT)测试是一种从供电回路,通过观察被测电路所吸取的瞬间动态电流来检测故障的一种方法,被认为可以检测出一些经电压测试和(IDDQ)测试所不能检测的故障。
参考来源 - 数字集成电路电流测试技术研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
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