3.2 探头:高角环形暗场探头(HADDF)或明场像(暗场像)探头
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...度测量、强度测量、X射线衍射分析(XRD)、扫描电子 显微像(SEM)分析、透射电子显微像(TEM)分析及高角度环形暗场像(HADDF)分 析等手段系统地研究了2519铝合金经均匀化热处理、热挤压变形、固溶处理、人 工时效等热处理后微观组织结构及力学性能的变化,...
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