...40—50 nm之间．更细致观察发现，在SiC 壳层中存在一些平行于W芯的较亮条纹衬度（如箭头所 示）．进一步的高角环形暗场（HAADF）像显示（图6）： 两种纤维存在明显不同，在纤维2中，许多平行于纤维轴 向的暗条纹出现在SiC壳层中，径向生长的SiC柱状晶 在条纹处...
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...移速率（使用标准样品杆）：≤ 0.5nm/min 2.9 扫描透射(STEM) 2.9.1分辨率：≤ 0.19 nm 2.9.2探头：高角环形暗场探头（HAADF） 2.9.3 TEM与STEM模式相互切换后所需热稳定时间小于30秒 2.9.4 STEM放大倍数范围150x - 230Mx 2.10 X射线能谱仪(EDS) ，技术规格...
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