functional model of yield 产量函数模式
This dissertation aims at discussing the model, simulation and optimization methods of functional yield of integrated circuits.
本文对集成电路功能成品率模型、仿真技术以及功能成品率优化设计方法进行了系统研究。
参考来源 - 集成电路功能成品率仿真与优化技术研究·2,447,543篇论文数据,部分数据来源于NoteExpress
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