time of flight spectrometry 飞行时间谱学
neutron time-of-flight spectrometry 中子飞行时间能谱测量学
gas-filled time-of-flight spectrometry 充气飞行时间谱仪
Time of Flight Mass Spectrometry 飞行时间质谱 ; 飞行时间质谱技术 ; 时间质谱技术 ; 时间质谱
time-of-flight mass spectrometry 飞行时间质谱 ; 时间质谱术
time-of-flight secondary ion mass spectrometry 飞行时间二次离子质谱 ; 时间二次离子质谱 ; 二次离子质谱
distance-of-flight mass spectrometry 飞行距离质谱
Aerosol Time-of-Flight Mass Spectrometry 气溶胶飞行时间质谱仪
time of flight-mass spectrometry 飞行时间质谱 ; 结合飞行时间质谱
Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications.
飞行时间二次离子质谱（TOF- SIMS）是一种非常灵敏的表面检测技术。
The technique of coupling ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS) with time-of-flight mass spectrometry (TOFMS) is described.
本文报道了将紫外光电子能谱(ups)和飞行时间质谱(TOFMS)相结合的技术。
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