研究真空表面闪络过程有两类理论;二次电子发射崩溃(SEEA)和电子引发极化松弛(ETPR).SEEA理论以绝缘子表面在电子轰击下发射二次电子为基础,包含了电子诱发脱附(ESD),和脱附气体离子化并对闪络过程产生影响等过程,对...
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复合材料的陷阱参数对其在真空中高压脉冲下沿面闪络特性的影响 - docin.com豆丁网 络主要以电子诱发的气体解吸附和类汤生 (Townsend-like)放电的过程为主。另一种是电子触 发极化松弛(Electron Triggered Polarity Relaxation， ETPR)模型 [4] ，人们发现利用扫描电子显微镜(SEM) 的电子束轰击绝缘材料时，带电后的样品会在无外
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ETPR-tree ETPR树
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