X射线吸收光谱学（XAS） X射线照射被分析物质，利用吸收光谱进行物质解析的方法。 原理： x射线的吸收特征X射线束透过物质后，其减弱服从指数衰减定律。吸收系数包括光电吸收和散射吸收 两部分，一般是前者远大于后者。 物质的质量吸收系数是入射X射线波长及其所含元素的原子序数的函数。 当吸收物质一定时，吸收系数先是近似随波长的三次方 而增加，但到某一波长时，则发生陡然下降;随后又会出现类似的增长和下降规律。 这些吸收跃变所对应的波长称为吸收限。吸收限是吸收元素的特征量，标志入射 X射线的光子能量恰好能够逐出该原子中的K、L、M ……层上电子的能量。利用吸收限的测量值，可以作出原子能级图，也是选择滤波片材料的依据。进一步的分析表明，吸收曲线在吸收限短波侧附近的变化并不是单调平滑的，而是表现出不同程度的振荡现象，称为X 射线吸收限的精细结构XAFS(X射线吸收近限谱XANES和扩展X射线吸收谱EXAFS)。它是由吸收原子之周邻原子对出射光电子的背散射引起的，是该原子配位环境的一种反映。 X射线吸收谱分析法测量透过样品的X射线强度随波长的变化，根据所揭示的吸收限的波长，即可鉴定样品中所存在的元素。再通过测定各吸收限上所出现 的吸收强度的变化，还可进行定量分析。在定量分析中，尚有利用单色或连续X射线的直接吸收分析法。