三氧化钨晶化薄膜
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wo3 crystal film
Wo3晶体薄膜
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Its crystal structures were analyzed by X-ray diffraction (XRD) method. The deposition technology of the WO3 thin film was obtained.
利用X射线衍射(XRD)方法对薄膜的结构进行了分析，得出了WO 3薄膜的沉积工艺。
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