目前恩智浦大约有40~50％的晶圆测试（wafer test）是在高雄厂做的。林梅龄补充，台湾的隐忧是许多飞机航线已经略过高雄，进出口的方便性受到影响，好在高铁的运输解决了这项难题。
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条式测试(Strip Test)是运用圆片测试(Wafer Test)的原理来对整条框架上的器件进行成品测试(Final Test),可以同时并行测试(Parallei Test)多个器件,可以很方便地进行高温、常温、低...
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... 测试探针,测试连接头及附件 Test Probes, Test Leads andAccessories 晶圆测试/探针测试 wafer test 探针测试 probe test ...
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pre-wafer test 晶圆前置测试
final wafer test 晶圆后端测试
on wafer chip test 薄片内芯片检测
on wafer test 在片测试
on-wafer test 在片检测
wafer-level test 晶圆级检测
test wafer 测试晶圆 ; 测试级硅片 ; 测试片 ; 测试级抛光硅片
wafer acceptance test 测试 ; 收测试 ; 晶圆参数测试
wafer level Test and burn-in 晶圆测试和老化
During the testing of the integrated circuit (404), it communicates in the wafer test mode.
在集成电路(404)的测试过程中，它在晶片测试模式下通信。
These vendor functions must be integrated for functions such as wafer fabrication, wafer test, module build, and module test.
这些供应商功能必须针对晶片制造、晶片测试、模块构建和模块测试等功能进行集成。
Wafer Die Disposition: Various functions related to wafer manufacturing and test.
Wafer Die Disposition：各种与晶片制造及测试相关的功能。
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