...射线衍射(XRD),X-射线光电子能谱(XPS)等方法对所制备样品的结构形貌行进分析;通过紫外可见漫反射(UV-vis diffuser reflectance),开路电压(open ciruit)等测试方法对样品的光电化学性能进行表征。
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uv-vis diffuser reflectance
Uv-vis漫射反射率
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