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Thesis have finished 12 semiconductor Testing House some system and testing machine automation already, it is an automatic part to testing procedure that will study development in the future, and integrate the automation of 12 inches semiconductors Testing House.
本论文已经完成了12寸半导体测试厂部分系统与测试机台设备的自动化,未来要研究发展的是测试程序的自动化部分,达成整个12寸半导体测试厂自动化的整合。
参考来源 - 12寸半导体测试厂自动化研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
Figure 8 shows the testing procedure.
图8展示了测试过程。
Therefore, we recommend the following stress testing procedure.
因此，我们建议进行以下压力测试过程。
In the c_text parameter enter the value Testing procedure and in the c_display parameter enter true.
在c_text参数中输入值Testing procedure，并在c_display参数中输入true。
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