在十一月，产业界亦将迈向下一步，针对18英寸测试晶圆(test wafer)的厚度进行投票，而925微米似乎仍是主要目标；Goldstein表示他们并不希望有太大的改变。
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我司致力于为客户提供全面的硅片（Silicon Wafer）解决方案，从调试级硅片（Dummy Wafer）,测试级硅片（Test Wafer），定制超厚、超平硅片等，尺寸覆盖4寸、5寸、6寸、8寸、12寸,并可提供半导体硅片单面/双面抛光、减薄、切割、MEMS等加工和定制服...
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公布 中文名称：测试片 英文名称：test wafer 定义：用于加工工艺检测、区域和加工洁净度检测的硅片。等级比机械测试片高，比正片低。 应用学科： 材料科学技术（一级学科）； 半导体材料（二级学科）；元素
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Wafer test 晶圆测试 ; 圆片测试 ; 晶片试验 ; 探针测试
on wafer chip test 薄片内芯片检测
wafer-level test 晶圆级检测
pre-wafer test 晶圆前置测试
final wafer test 晶圆后端测试
wafer acceptance test 测试 ; 收测试 ; 晶圆参数测试
wafer level Test and burn-in 晶圆测试和老化
wafer level test 晶圆级检测
Virgin test wafer - a wafer that has not been used in manufacturing or other processes.
原始测试晶圆片㠰-还没有用于生产或其他流程中的晶圆片。
Processs Test wafer - a wafer that can be used for processes as well as area cleanliness.
加工测试晶圆片䏐-用于区域清洁过程中的晶圆片。
Test wafer - a silicon wafer that is used in manufacturing for monitoring and testing purposes.
测试晶圆片駦-用于生产中监测和测试的晶圆片。
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