semiconductor testing device
半导体测试装置
以上为机器翻译结果，长、整句建议使用 人工翻译 。
A method is provided for testing a semiconductor device that includes both a digital (310) and analog (320) portion.
本发明提供一种用于测试包含数字部分(310)和模拟部分(320)两者的半导体装置的方法。
youdao
应用推荐
模块上移
模块下移
不移动