scanning electronic micrograph
...terials) 图一是一个12 mm2的密间距(fine-pitch)微控制器倒装芯片的截面扫描电子显微图(SEM, scanning electronic micrograph)，该芯片是在柏林的Fraunhöfer可靠性与微集成研究所(Fraunhöfer Institute...
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扫描电子显微照片
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