SCAN TEST 扫描测试
Boundary Scan Test 边界扫描测试 ; 边界扫描测试技术 ; 扫描测试
Eye-Scan Test 角色眼神定义
Boundary-Scan Test Architecture 边界扫描测试技术
Scan Test Architecture 边界扫描测试技术
boundary scan test system 边界扫描测试系统
full-scan test 全扫描测试
Board Scan Test 边界扫描测试技术规范
temperature scan test 温度巡回检测
The advantage of testability synthesis to scan-test is which can perform function test , interlinkage test and existence test of component at board level.
将扫描测试进行可测性综合的优点是不仅可以进行器件的功能测试,还可以进行互连测试和板级的器件存在性测试。
参考来源 - 系统级芯片的测试与可测性设计研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
These tests may include a brain scan, and a tensilon test.
这些测试可能包括脑部扫描、和腾喜龙测试。
Some problems in logic cluster boundary scan test could not be neglected.
逻辑簇的边界扫描测试存在一些不可忽视的重要问题。
Moreover, a scan test circuit was proposed. This circuit can implement scan test and high speed build in self test (BIST) for IP core chip tests.
另外，本文还针对IP核投片测试提出一种扫描测试电路结构，能够实现测试芯片的扫描测试和高速内建自测试(BIST)。
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