基于Huffman编码的SoC测试数据压缩方法研究 - docin.com豆丁网 适用于时序电路的测试，故 障覆盖率由故障模拟确定，测试长度的选择根据可接受的故障覆盖率的值 来确定。伪随机测试存在的问题是一些电路具有抗随机图形（Random PatternResistant，RPR）故障，为了保证高的故障覆盖率需增大测试图形长 度‘43】【44】。 （3）加权测试生成 LFSR的固
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random pattern resistant
抗随机模式
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