(iii)相位差显微术 (phase image microscopy) SPM在tapping mode的操作模式下，透过贴于探针上压电片的振荡，使悬杆在一已知
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phase image microscopy
相像显微术
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A pseudo weak phase object approximation to the principle of image formation in high resolution electron microscopy is presented.
本文提出了高分辨电子显微象的赝弱相位物体近似。
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