谱线宽度法
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x-ray diffraction line width method x射线衍射线宽法
line width addition method 线宽增量法
line width method
线宽法
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The quantitative determination of 70% bismuth in silicon-bismuth samples were completed by line width method. The relative error is less than 7.15%, the relative standard deviation is 5.85%.
用谱线宽度方法定量检测了硅铋样品中含量为70%的铋， 相对误差小于7.15%，相对标准偏差为5.85%。
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