无标题文档 关键词 ：R-矩阵方法；CIV离子；电子碰撞展宽；线宽和线移 [gap=710]Key words : R-matrix; CIV ion; electron impact broadening; line width and shift
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line width and shift
线宽和位移
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Due to instability and large line-width, detecting organic gases with reflectance shift of porous silicon directly brings serious error to experiments.
多孔硅的性能不稳定，且反射谱带宽很大，所以利用多孔硅的反射谱漂移探测有机气体，会给实验带来很大的误差。
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