go top

interface trap density

  • 界面陷阱密度:指半导体器件中,介质与半导体之间的界面上的缺陷或不规则结构所产生的电荷陷阱的密度。界面陷阱密度是衡量半导体器件性能的重要参数之一。

网络释义

  密度

...长久以來的电晶体制程大多都是 使用(100)的基板,虽然在(100)的基 板上有著较低的氧化层介面电荷密度 (Interface Traps Density),但是对 于电洞的迁移率却有著相当大的损失 [1~4],若将元件制作于(110)基板上 时,虽然可以提升电洞的迁移率,但 是又会对电子...

基于8个网页-相关网页

$firstVoiceSent
- 来自原声例句
小调查
请问您想要如何调整此模块?

感谢您的反馈,我们会尽快进行适当修改!
进来说说原因吧 确定
小调查
请问您想要如何调整此模块?

感谢您的反馈,我们会尽快进行适当修改!
进来说说原因吧 确定