This paper proposes a new algorithm for transient current test (IDDT) generation for delay fault.
这里提出了一种关于延时故障的测试产生算法。
This paper proposed a new algorithm for transient current test(IDDT) generation.
针对瞬态电流测试提出了一种测试产生算法。
This paper proposes a new algorithm for transient current test (IDDT) generation.
本文针对瞬态电流测试提出了一种测试产生算法。
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