处理器包括第一寄存器，该寄存器设定成可储存一个或多个硬件除错测试(hardware-debug-test，HDT)激活位；相连的第一控制逻辑以便接收多个HDT输入信号；以及和第一寄存器相连的第二控制逻辑。
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We used this test environment to test, debug, and re-test the different components without adding hardware or software.
我们使用这个测试环境来测试、调试、再测试不同的组件，而无需添加硬件或软件。
It has passed the hardware and software debug and circuit test.
本方案已经通过硬件、软件调试以及电路测试。
This testing system is adopted to debug and test the VME modules in the electronic system of BES III(Beijing Spectrometer III), improving the efficiency of electronic hardware development and .
在BES III的电子学系统VME机箱和插件级设备的调试和检测中采用了该测试系统，提高了硬件研制及调试的效率。
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