定义 中文名称： 四探针法 英文名称： four-probe measurement 定义： 将等间隔直线排列的四支金属探针，垂直压在任意形状半导体样品表面，使电流从两支外探针间通过，测量两支内探针间的电位差，依据一定的公式和修正方法可以求出半
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four point probe measurement 四探针丈量 ; 四探针测量
the four-point probe measurement 四探针测量法
The thin film TE material resistivity measurement system which is designed in the thesis bases on the principle of four-probe method and double pulse technology.
本论文依据四探针法的基本原理并结合双脉冲技术，设计并制造适用于薄膜温差电材料的电阻率测试系统。
As with the four-point collinear probe method, a differential measurement may be required if the sample resistance is of the same magnitude as the isolation (meter common to ground) of the voltmeter.
与四点同线探针法一样，如果样品电阻和电压表的绝缘电阻（电压表的公共端到地）是同一数量级的，就可能需要使用差分测量。
A measurement of resistivity of metal film using four-point probe technique can be used as the general physics experiment.
四探针测量金属薄膜电阻率是当今微电子技术领域中常用的方法。
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