（电路低端不连到地电位） Four-Point Probe（四探针）： 四点同线探针电阻率测量技术用四个等距离的探针和未知电阻率的材料接触。此探针阵列放在材料的中央。
基于30个网页-相关网页
four point probe technique 四探针技术
Four Point Probe 四探针台 ; 四点探针量测仪 ; 四点探针 ; 四探针
FOUR-POINT PROBE METER 方块电阻测试仪
four point probe measurement 四探针丈量 ; 四探针测量
four-point probe method 以四探针法 ; 四探针法
four-point probe methods 四探针技术
DC four point probe method 直流四探针法
The four-point probe technology is also faced with more severe challenge simultaneously.
四探针技术也同时面临着新的挑战。
参考来源 - 半导体材料四探针测试仪中的自动控制技术与图象识别技术的应用·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
A new method for measuring sheet resistance of semiconductor using four-point probe has been developed.
本文介绍用四探针技术测量半导体薄层电阻的新方案。
A measurement of resistivity of metal film using four-point probe technique can be used as the general physics experiment.
四探针测量金属薄膜电阻率是当今微电子技术领域中常用的方法。
Figure 4-47 is a diagram of four - point collinear probe setup for resistivity measurements.
图4 - 47是四点同线探针用于电阻率测量的配置图。
应用推荐