... 姓: F 标签: F D Key 地址说明: Rd ...
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Key F D 名称
f d key
F键
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WANG X F. the research on key technology of stress analysis based on infrared thermographic technology [d]. Harbin: Harbin Institute of technology, 2008.
[2]王喜丰。基于红外热像技术的应力分析关键技术研究[D]。哈尔滨：哈尔滨工业大学，2008。
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