electron impact ion source 电子轰击离子源 ; 电子碰撞离子源 ; 电子轰击源
electron beam ion source [核] 电子束离子源
electron bombardment ion source 电子轰击离子源
electron oscillation ion source [核] 电子振荡离子源
electron cyclotron resonance ion source 电子回旋共振离子源
electron ionization ion source 电子轰击离子源
pulsed electron impact ion source 脉冲电子碰撞离子源
electron n impact ion source 电子碰撞离子源
The electron beam ion trap(EBIT) and the electron ion source(EBIS) are new instruments for the study of X-ray produced by very highly-charged ions when they interact with free electrons.
利用电子束离子源（EBIS）或者电子束离子陷阱（EBIT）产生的慢速高电荷态重离子束轰击金属靶面，离子束与靶面作用并复合辐射特征X射线；
A new electron impact storage ion source has been designed for time of flight mass spectrometers with a high mass resolving power and high sensitivity.
电子轰击存贮型脉冲离子源是为高分辨率、高灵敏度飞行时间质谱仪设计的新型离子源。
In addition, the requirement of delivering 18o2 beams from the electron cyclotron resonance ion source can be satisfied by the obtained 18o2 gas.
此外，制得的气体能够满足电子回旋共振离子源提供18o重离子束的实验要求。
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